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X-射線熒光分析顯微鏡是一款顯微鏡,掃描范圍為512×512μm~100×100μm。
目錄
中文名:X-射線熒光分析顯微鏡
元素分析范圍:Na11~U92
儀器靈敏度:幾十ppm
掃描范圍:512×512μm~100×100μm
主要用途: 1.固體、液體樣品的成分、結(jié)構(gòu)及成份分布 2.Na-U元素的定性及定量分析 3.可做幾種圖像:①元素分布圖;②透射X光像;③光學顯微鏡像 4.相分析(相結(jié)構(gòu))地質(zhì)考古、寶石鑒定、電子元器件、集成電路、刑事偵察、物證鑒定、金屬、非金屬材料成份分析及元素分布、環(huán)境監(jiān)測、生物醫(yī)學
儀器類別: 03040108 /儀器儀表 /光學儀器 /顯微鏡 /熒光顯微鏡
指標信息:X射線束斑直徑:10μm或100μm 最大樣品尺寸:100×100×30mm 掃描范圍:512×512μm~100×100μm 射線對樣品:無損傷、無污染
儀器特點:
1.大氣狀態(tài)下分析,不需對樣品進行處理
2.不破壞、不污染分析貴重樣品
3.同時分析樣品的成份和結(jié)構(gòu)
4.可對樣品進行點分析和從微觀級到宏觀級的面分析
5.能夠?qū)a~U的元素同時進行分析,并可同時記錄31種元素的測定結(jié)果
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