光源老化：若紅外光源（如溴鎢燈、硅碳棒）使用超過 5000 小時，可能出現(xiàn)能量衰減，導(dǎo)致譜圖信噪比下降?？赏ㄟ^更換新光源，并使用能量測試模塊檢測不同波長的能量值，確保達(dá)到儀器標(biāo)稱范圍（如中紅外波段能量≥80% 初始值）。

探測器故障：熱電制冷探測器（DLATGS）若制冷溫度不足（正常應(yīng)≤-50℃），會導(dǎo)致暗電流增大。需檢查制冷系統(tǒng)，補(bǔ)充制冷劑或更換制冷模塊；液氮冷卻型探測器（MCT）需確保液氮液位充足（至少保持在容器 1/3 以上），避免因低溫不足影響響應(yīng)速度。

鏡片污染：樣品室窗口、光柵、干涉儀等光學(xué)部件若附著灰塵或樣品殘留，會導(dǎo)致光能量損失。需用無水乙醇浸濕的鏡頭紙輕輕擦拭，頑固污漬可配合專用光學(xué)清潔劑，禁止使用硬物刮擦。

光路偏移：長期使用可能導(dǎo)致光路準(zhǔn)直偏差，表現(xiàn)為譜圖基線漂移或峰強(qiáng)度異常。需按照儀器手冊進(jìn)行光路校準(zhǔn)，通過調(diào)整反光鏡角度，使干涉圖信號強(qiáng)度達(dá)到最大值（如≥90% 滿量程）。

掃描次數(shù)與分辨率平衡：過高的分辨率（如 0.5cm?¹）和過多掃描次數(shù)（如 64 次）會顯著增加測量時間，但普通定性分析采用 4cm?¹ 分辨率 + 16 次掃描即可滿足需求?？筛鶕?jù)樣品復(fù)雜度調(diào)整，例如簡單混合物分析可降低至 8 次掃描，將單次測量時間從 2 分鐘縮短至 30 秒。

掃描范圍精準(zhǔn)限定：若僅需分析特定波段（如有機(jī)物的 3000-2800cm?¹），可在軟件中設(shè)置限定掃描范圍，而非全波段（4000-400cm?¹）掃描，減少無效數(shù)據(jù)采集時間。

實時處理功能開啟：部分儀器支持邊掃描邊處理數(shù)據(jù)，而非掃描完成后集中處理。在軟件設(shè)置中勾選 “實時平滑”“基線校正” 等功能，可節(jié)省后續(xù)數(shù)據(jù)處理時間。

算法簡化：復(fù)雜的多維校正算法（如偏最小二乘）雖精度高但耗時，常規(guī)分析可改用簡單的峰面積積分或匹配檢索算法，提升處理速度。

減少前處理步驟：固體樣品若無需精確定量，可直接采用 ATR 附件（衰減全反射）測量，省去壓片、研磨等步驟，單個樣品制備時間從 10 分鐘縮短至 1 分鐘。

批量處理優(yōu)化：液體樣品可使用自動進(jìn)樣器，設(shè)置連續(xù)進(jìn)樣序列，實現(xiàn)無人值守分析；粉末樣品采用多孔樣品盤，一次裝載多個樣品，減少換樣停機(jī)時間。

消除干擾因素：高含水量樣品會在 3400cm?¹ 附近產(chǎn)生強(qiáng)吸收峰，掩蓋其他信號，需通過干燥處理（如真空干燥）降低水分影響；渾濁樣品需過濾或離心，避免散射導(dǎo)致的能量損失。

濃度匹配：樣品濃度過高會導(dǎo)致峰飽和，需稀釋至合適濃度，減少重復(fù)測量次數(shù)。

溫濕度控制：環(huán)境溫度波動超過 ±2℃或濕度＞60%，會導(dǎo)致儀器穩(wěn)定性下降，分析時間延長。需開啟實驗室空調(diào)和除濕機(jī)，將環(huán)境參數(shù)穩(wěn)定在 23±1℃、濕度 40%-50%。

電磁干擾排除：將儀器遠(yuǎn)離大功率設(shè)備（如離心機(jī)、空壓機(jī)），避免電磁干擾導(dǎo)致的數(shù)據(jù)采集中斷或重復(fù)掃描，必要時加裝電源濾波器。

運(yùn)動部件潤滑：干涉儀動鏡、樣品室滑軌等運(yùn)動部件每半年需加注專用潤滑脂，防止卡頓導(dǎo)致的掃描速度下降。

軟件系統(tǒng)更新：及時安裝儀器廠商發(fā)布的固件和軟件更新，修復(fù)數(shù)據(jù)處理模塊的漏洞，提升運(yùn)算效率（如部分更新可使譜圖檢索速度提升 30%）。

若出現(xiàn) “通訊超時”“硬件連接失敗” 等提示，檢查 USB / 以太網(wǎng)接口是否松動，重啟儀器或更換數(shù)據(jù)線。

持續(xù)效率低下且無明確故障提示時，聯(lián)系廠商技術(shù)支持，進(jìn)行光路校準(zhǔn)、電路檢測等專業(yè)維護(hù)，避免因隱性故障導(dǎo)致的長期效率損耗。