納米激光粒度儀是基于動(dòng)態(tài)光散射(DLS)原理與光子相關(guān)光譜(PCS)技術(shù)的高精度顆粒分析儀器,采用532nm短波長(zhǎng)LD泵浦激光器與光電倍增管(PMT)探測(cè)器,通過(guò)90°散射角采集顆粒布朗運(yùn)動(dòng)引發(fā)的散射光信號(hào)。其核心微納CR140數(shù)字相關(guān)器具備8ns時(shí)間分辨能力與125M/s運(yùn)算速度,可精準(zhǔn)解析0.3nm至5μm粒徑范圍,重復(fù)性誤差小于1%。
納米激光粒度儀在實(shí)際操作中可能遇到一些問(wèn)題,了解這些問(wèn)題及其解決方法可以幫助用戶更好地利用儀器,并確保測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性。

1、測(cè)量結(jié)果不準(zhǔn)確
問(wèn)題描述:用戶發(fā)現(xiàn)測(cè)量結(jié)果與預(yù)期不符或重復(fù)性差。
解決方法:先檢查樣品制備是否正確,包括分散劑的選擇、濃度控制以及超聲處理時(shí)間等。其次,校準(zhǔn)儀器是關(guān)鍵步驟,定期使用標(biāo)準(zhǔn)粒子進(jìn)行校準(zhǔn)以保證測(cè)量精度。另外,環(huán)境因素如溫度、濕度也可能影響測(cè)量結(jié)果,盡量保持實(shí)驗(yàn)室條件穩(wěn)定。
2、數(shù)據(jù)波動(dòng)大
問(wèn)題描述:在相同條件下多次測(cè)量得到的數(shù)據(jù)差異較大。
解決方法:這可能是由于樣品未充分分散導(dǎo)致的團(tuán)聚現(xiàn)象。嘗試調(diào)整超聲波處理時(shí)間和功率,或者更換更有效的分散介質(zhì)。同時(shí),檢查內(nèi)部光學(xué)系統(tǒng)是否有灰塵或其他污染物,必要時(shí)進(jìn)行清潔維護(hù)。
3、軟件故障或界面卡頓
問(wèn)題描述:操作軟件出現(xiàn)錯(cuò)誤提示、響應(yīng)遲緩甚至崩潰。
解決方法:確保使用的軟件版本為新版,及時(shí)更新補(bǔ)丁可以修復(fù)已知漏洞。如果問(wèn)題依舊存在,重啟計(jì)算機(jī)和儀器可能會(huì)有所幫助。此外,檢查電腦硬件配置是否滿足軟件運(yùn)行要求,適當(dāng)升級(jí)內(nèi)存或硬盤空間也能改善性能。
4、光路對(duì)中不良
問(wèn)題描述:測(cè)試過(guò)程中光束偏離正常路徑,影響測(cè)量精度。
解決方法:大多數(shù)現(xiàn)代儀器都配有自動(dòng)對(duì)中功能,按照說(shuō)明書(shū)指引執(zhí)行自動(dòng)對(duì)中程序即可。如果沒(méi)有此功能,則需要手動(dòng)調(diào)整光學(xué)元件的位置,直至激光束準(zhǔn)確穿過(guò)樣品池中心。
納米激光粒度儀通過(guò)上述指導(dǎo)希望能幫助用戶更好地理解和解決在使用時(shí)遇到的問(wèn)題,從而提高工作效率和數(shù)據(jù)質(zhì)量。如果問(wèn)題持續(xù)存在,請(qǐng)聯(lián)系制造商或?qū)I(yè)維修服務(wù)獲取進(jìn)一步的幫助。